已知幾種方法來（lái）檢查蝸輪以（yǐ）評估待不采用的齧合。現有技術的這些（xiē）方（fāng）法提供了將螺絲安裝在（zài）套件（jiàn）中並使用傳統（tǒng）儀器來分析該套件的性能和噪音級別。很明（míng）顯（xiǎn），因為需要在裝配線上安（ān）裝螺絲並觀察該螺絲（sī）是否通過了測試，所以現有技術的這些（xiē）檢查方法很長、麻煩且複雜。然後，將該螺絲從裝配線上取下並送（sòng）到生產部門（mén）或根據測（cè）試結（jié）果而不（bú）采用。而且，這些（xiē）類（lèi）型的檢查不是非常可靠，也不能（néng）保證螺絲的良（liáng）好（hǎo）質量（liàng）。
技術實現要素
本發（fā）明的目（mù）的在（zài）於通過公開一種實用、高效、多功能、可靠、價格低廉以及使用簡單的（de）蝸輪的檢查（chá）方法來消（xiāo）除現有技術的缺陷。本發明的這些目的通過獨立權利要（yào）求1的特征來實現。本發（fā）明的有利實施例通過（guò）本發明的從屬權利要求來體現。本發明的方法允許分析齒輪的表麵特征（zhēng），檢查是否符合用戶預先（xiān）設定的公差（chà）極限值，以（yǐ）最大限度地提高性能並將齒輪產生的噪音降至最低。本發明的方法允許（xǔ）在（zài）螺釘被插入組裝線之前進行選擇（zé），從而優化生產循環和保證更好的質量。用於螺釘表麵分析的數據可以使用電（diàn）子測量係統，其用探針與漸開線齒廓（kuò）和測試螺釘的螺旋齒廓接觸來（lái）進行掃（sǎo）描，以笛卡爾（ěr）形式提供齒廓表麵的一係列點被適當地過濾和處理以獲得測量結果準確和高保真度的蝸輪的（de）真實齒廓。附圖（tú）說明本發明的附加特征將通過下麵的附圖的詳細（xì）描述而清楚，其僅用於說明而非（fēi）限製性。其中：圖1表示用高斯低通濾波器獲得的漸開線的主要齒廓，圖1A表（biǎo）示根據圖1的漸開線的主要齒廓計（jì）算（suàn）的（de）中線，圖2表（biǎo）示用高斯低通（tōng）濾波（bō）器獲得的（de）螺旋的主要齒廓，圖2A表示根據圖（tú）2的螺旋（xuán）線的主要齒廓（kuò）計算的中線，圖3表（biǎo）示用高斯高通濾波器獲得的漸開線的表麵（miàn）分析齒廓（kuò），圖4表示用高斯高通濾波器獲得的螺旋的表麵分析齒廓，圖5為用7組（zǔ）蝸杆螺絲（sī）實驗測量（liàng）得到的表（biǎo），圖6為概略示出根據本（běn）發明的方法（fǎ）的框圖。
具體實施方式
本發明的方法提供了分析四種（zhǒng）不同蝸杆1的齒廓。該待（dài）分析的齒廓為：實際齒廓(PR)，測（cè）量的齒（chǐ）廓(PM)主要齒（chǐ）廓(PP)表麵分析齒廓(SA)實（shí）際齒廓實際齒廓(PR)通過（guò）測量機2來識別，考慮包（bāo）含齒輪軸1的平麵。實際齒廓(PR)由齒輪的外側麵與包含齒（chǐ）輪軸（zhóu）線的平麵的交點給出。測量的齒廓在識別實際齒廓(PR)後，控針3掃描實際齒廓（kuò）(PR)以獲得測（cè）量的齒廓(PM)。因此根（gēn）據探（tàn）針的半（bàn）徑對（duì）實際齒廓(PR)進行機械過濾。測量的齒廓(PM)表示與理論齒廓（kuò）的偏差。為了說明這些目的，測量的齒廓(PM)通過具有MDM漸開線的（de）蝸輪1、使用帶0.5毫米直徑的切割工具的探頭、收集在螺絲的漸開線和螺旋部分上最（zuì）多3000點的測量軟件來獲得。根據（jù）本發明的方法的輸入數據（jù），即，測量的齒廓(PM)不是完（wán）美的虛擬幾何形狀(在這（zhè）種具體的情況下（xià），圓和螺（luó）旋的漸開線)，而是沿著基（jī）於蝸輪結構數據的運（yùn）動（dòng）軌（guǐ）跡、通（tōng）過探針的傳感器（qì）獲得的偏離完美的虛擬用幾何形狀。主要齒廓主要齒廓(PP)是通過（guò）使用具有截止頻率(fs)的低通濾波器4過濾測量的齒廓(PM)而獲（huò）得的（de），該截止（zhǐ）頻率(fs)與下限波長（zhǎng）(λS)成反比。
因此，低通濾波器允（yǔn）許截止頻率(Fs)以（yǐ）下的頻率通過並去除低（dī）於下限波長(λS)的（de）波長，因（yīn）為它們不相關（guān）。主要齒廓是針對掃（sǎo）描測量的（de）齒廓(PM)長度的全部時間計算的（de）。低通濾波器4可以是高斯濾波器。在（zài）高斯濾波器中，權重在空間域（yù）(x)中的定義由以下方程式得出：其中，λ為與濾波（bō）器的截止頻率成反比的（de）波長。為了說明的目的，下限波長λ＝λS＝7被選擇用於低通濾（lǜ）波器。圖1表示用具有（yǒu）下限波長λ＝λS＝7的高（gāo）斯低通濾波器獲得的漸開線的主要齒廓。圖（tú）1A表示根據圖（tú）1的漸開線的主要齒廓計算的中線。圖2表示用高斯低通濾波器獲得的螺旋的主要（yào）齒廓。圖2A表示在圖2螺旋的（de）主要齒廓計算的中線。表麵（miàn）分析齒（chǐ）廓表麵分析齒廓(SA)通過使用具有與（yǔ）上限波長（zhǎng）(λC)成反比的截止頻（pín）率(fc)的高通濾波器5過濾主要齒廓(PP)而獲得。因（yīn）此高通濾波器可（kě）以使高於截止頻率(fc)的頻率通過（guò）並消除高於上限波長λC的波長（zhǎng），因為它們（men）不相關。表麵（miàn）分析齒廓(SA)計算的長度等於約80％的測（cè）量的齒廓的掃描長度。高通濾波器5可以是像低通（tōng）濾波器那樣的高（gāo）斯濾波器。
在高通濾波（bō）器5的情況下，上限波長λC可以由用戶設置。有利地，上限波長（zhǎng）λC可以由（yóu）探針掃（sǎo）描的點數除以10而得出，即，有利地，掃（sǎo）描的（de）點（diǎn）數可以高於2000；在這（zhè）個具體（tǐ）的（de）例（lì）子中，如果掃（sǎo）描的點數（shù）為3000，那麽上限波長λC＝300。圖（tú）3和圖4分別表示通過具（jù）有上限波長λ＝λC＝300的高斯高（gāo）通濾波器（qì）而獲得的漸（jiàn）開線（xiàn）和螺旋的表麵分析齒廓(SA)，其中示出了（le）以（yǐ）已知的方式用計算器6計算的中線(LM)。表麵分析齒廓(SA)用於計算：-第一誤差二（èr）次平均參數(SAa)；-第二二次誤差參（cān）數(SAq)和-第三（sān）峰值平均（jun1）參數(SAp)。誤（wù）差二次（cì）均值(SAa)從以下方程（chéng）式中獲得：其中，xi為(SA)齒廓的點與SA齒廓的中線的絕對偏差；以及np為評估分析中所考慮的點數。通常，在(SA)齒廓中，所考慮的點數等於掃描的點數的（de）約80％。因此，在這（zhè）個具體的情況下，如果掃描的點數是3000，np＝2400二次（cì）誤差(SAq)從以下方程式中獲得：峰值（zhí）平（píng）均值(SAp)從（cóng）以（yǐ）下方程式中獲（huò）得：其中，pi是最高點，其與SA齒廓的中線的距（jù）離高於至少四個（gè）相鄰點的距離。這（zhè）三個（gè）參數(SAa；SAq；SAp)用計算器（qì）6算出。在計算出這些參數(SAa；SAq；SAp)後，所述參（cān）數的每一個與由用戶預設的相應的閾值(TSa；TSq；TSp)進行比較。這樣的比較是由比較器7執行的。如（rú）果所述參數(SAa；SAq；SAp)之一高於其閾值(TSa；TSq；TSp)，則（zé）必須不（bú）采用蝸（wō）輪1。閾值(TSa；TSq；TSp)由用戶根據待分析（xī）的蝸輪的類型進行實驗測試而計算出。圖5表示七組蝸輪(A、B、C、F、D、E、G)的測試結果。使用傳統儀器測量安裝在套件（jiàn）上的螺釘的標記。
而且，計算出（chū）在螺（luó）紋的每一側（cè）的以下參數：誤差算術（shù）平（píng）均值(SAa)，二次誤差(SAq)和峰值平均值(SAp)。如圖5所示，C組和F組的螺釘都有不可接受的標記值，B組的螺釘具有邊界標記值；而A、D、E和G組的（de）螺釘具有完全可以接受的非常低的標記值。這些結果完全反映在用本發明的方法計算的參數值(SAa；SAq；SAp)。因此，根據所述的（de）實驗結果（guǒ），可以發現三（sān）個參數(SAa；SAq；SAp)的閾值(TSa；TSq；TSp)。
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